芯片失效存储单元的修复分析方法、装置和计算机设备

本申请涉及一种芯片失效存储单元的修复分析方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取内存矩阵的行存储单元的行备用数量和列存储单元的列备用数量；针对内存矩阵中每一失效存储单元，统计与失效存储单元同行的左侧区域内和上方区域内失效存储单元的数量，确定所有失效存储单元中的第一目标单元；针对内存矩阵中每一失效存储单元，统计与失效存储单元同行的右侧区域内和下方区域内失效存储单元的数量，确定所有失效存储单元中的第二目标单元；根据第一目标单元、第二目标单元、行备用数量和列备用数量，确定是否对内存矩阵运行修复分析算法的判断结果。采用本方法能够减少计算冗余，提高修复分析效率。