PCB缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备

本公开是关于一种PCB缺陷检测方法、PCB缺陷检测装置、存储介质及电子设备。该PCB缺陷检测方法包括获取待缺陷识别的PCB图像；将所述待缺陷识别的PCB图像输入至孪生网络，进行所述PCB图像的大目标缺陷特征和小目标缺陷特征识别，得到表征大目标缺陷特征的第一特征矩阵和表征小目标缺陷特征的第二特征矩阵；其中，所述孪生网络为基于PCB样本集预先训练得到；将表征大目标缺陷特征的第一特征矩阵和表征小目标缺陷特征的第二特征矩阵进行PCA数据降维和稀疏矩阵处理，得到融合特征；将所述融合特征输入至YOLO模型，进行缺陷识别，得到所述PCB图像中存在的缺陷种类和位置。