一种用于芯片测试的两段式双行程滑盖治具

本实用新型属于内存条及内存芯片测试技术领域，公开了一种用于芯片测试的两段式双行程滑盖治具，包括安装座，安装座的顶面和/或底面均设置有沿其长度方向依次排布的芯片安装部、压片部和滑盖部，芯片安装部设置有在安装座一端开设的两个第一芯片安装位和两个第二芯片安装位，压片部设置有均转动连接于安装座中部的两个第一压片和两个第二压片，滑盖部设置有位于安装座另一端且均滑动连接于安装座上的第一滑盖和第二滑盖。本实用新型通过分批下压，在安装座的一面实现四个内存芯片的压合，节省空间，提升实用价值。