一种多工位测试分选机

本申请涉及芯片加工领域，尤其涉及一种多工位测试分选机，其技术方案是，包括机体、沿机体长度方向依次设置的上下料装置、中转装置和测试装置，所述机体上设有位于上下料装置上方的取料装置一，所述机体上设有位于测试装置上方的取料装置二，所述机体沿长度方向设有手动上料装置，所述上下料装置用于放置芯片，所述取料装置一用于将上下料装置上的芯片传送到中转装置上，所述中转装置用于将芯片传送到测试装置区域内，所述取料装置二用于将中转装置上的物料传送到测试装置上。本申请具有提高测试效率，便于对不同规格数量芯片进行测试分选的效果。