摘要
本申请揭示一种基板结构,包括:绝缘层,其上表面包括用以设置芯片的一置晶区;以及线路结构,包括位于该置晶区外并包括有第一导电迹线的第一线路及位于该置晶区内并包括有第二导电迹线的第二线路,且该第二线路涵盖区域的宽度大于该第一线路的宽度。通过本申请的实施,可通过将经过置晶区的线路所涵盖的区域加宽至其宽度大于置晶区外的线路的宽度,以增加芯片与线路间的接触面积,分散芯片在热压的过程中所受到的来自线路的反作用力,故能降低芯片在热压制程中破损的风险,提升具有此基板结构的半导体元件的制造良率。
技术关键词
导电迹线
基板结构
线路结构
芯片
半导体元件
定义
加宽
良率
热压
通孔
风险
系统为您推荐了相关专利信息
高低温测试装置
内存模组
工业风扇
测试箱体
PC电源
端面耦合器
监控探测器
热光移相器
分束器
硅基光电子芯片