一种芯片测试设备的料盘传输机构

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种芯片测试设备的料盘传输机构，包括料盘传输座；所述料盘传输座设有料盘上料工位、芯片传输工位以及料盘下料工位；所述料盘传输座在料盘上料工位、芯片传输工位以及料盘下料工位之间活动设有托板；所述料盘传输座在料盘下料工位处设有多个下料支架；所述下料支架设有叠料块；所述下料支架在叠料块中部的底部设有限位销；所述料盘传输座设有第一料盘升降机构。本实用新型通过设置下料支架、叠料块以及限位销，使得测试完的芯片的料盘能够堆叠放置在叠料块的顶部，用户能够一次性对多个料盘进行下料；并且在料盘上料工位处堆叠有多个料盘，能够自动对堆叠的料盘进行逐个传输，有效地提高了工作效率。