一种便于半导体芯片模块测试的辅助装置

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一种便于半导体芯片模块测试的辅助装置
申请号:CN202422570232
申请日期:2024-10-24
公开号:CN223426712U
公开日期:2025-10-10
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型公开了一种便于半导体芯片模块测试的辅助装置,属于芯片测试技术领域。一种便于半导体芯片模块测试的辅助装置,包括装置本体。该便于半导体芯片模块测试的辅助装置,将芯片本体放置到放置槽内,固定梯形块运动挤压第二滑坡,使得卡块带着活动板在移动槽内滑动,卡块在第一弹簧作用下复位,使得卡块对固定梯形块进行锁定,继续向下按压测试板,此时上磁铁和下磁铁相互吸引,测试板带着固定梯形块复位,此时活动梯形块运动对第一滑坡进行挤压,活动梯形块受到卡块的阻挡,使得上磁铁和下磁铁分离,固定梯形块在第二弹簧的作用下复位,对芯片本体测试过程变得方便快捷,进而提高了测试板对芯片本体的测试效率。
技术关键词
半导体芯片模块 梯形块 测试板 活动板 芯片测试技术 磁铁相互吸引 弹簧 插头 卡块 滑槽 运动 顶端
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