一种芯片测试设备

本实用新型涉及芯片测试技术领域，本实用新型提供了一种芯片测试设备，其包括：底座、支撑轴、圆盘支架、送料装置；支撑轴位于底座上，圆盘支架安装于支撑轴上；圆盘支架圆周方向上依次设置进料组件、影像装置、第一不良料盒、第一运输组件、多个测试工位、第一料盒、打标装置、第二运输组件、第二料盒、编带组件、第二不良料盒；送料装置包括进料口、振动盘主体、通信线、电源线、屏蔽罩和磁性元件；屏蔽罩盖设于振动盘主体上，磁性元件为环状结构，通信线和/或电源线穿过环状结构。采用本申请的方案可以减少测试过程中因电磁干扰而造成测试结果不准确或测试设备误动作的问题。