摘要
一种集成CIS‑TSV技术与FOPLP技术的芯片封装结构,包括晶圆级玻璃承载板、晶圆级CIS芯片;将晶圆级CIS芯片与承载板键合在一起,并其上设置第一导电通孔结构;且设置第一金属重布线层,将多块晶圆级CIS芯片粘贴在承载板上形成板级复合体;在其上设置第一塑封层并在其上粘贴第二芯片并形成第二塑封层;在第二塑封层上依次设置第二/第三导电通孔结构和形成第二层金属充布线层;在其上依次设置绝缘层、导电结构通孔及第三层金属重布线层;在第三层金属重布线层上植球,拆除板级承载板和粘贴膜;切割得到单颗芯片。该封装结构可实现CIS芯片与其他种类芯片集成并通过FOWLP技术完成封装工艺,在实现不同种类芯片集成的同时,能极大的提高封装效率,显著降低加工成本。
技术关键词
导电通孔结构
芯片封装结构
重布线层
复合体
导电结构
承载板
围堰结构
粘贴膜
CIS芯片
粘贴胶层
玻璃
封装工艺