芯片元件测试设备

本申请实施例提供一种芯片元件测试设备，包括：抓取装置，其将空载的托盘抓取至摇料装置，并将已装载有多个芯片元件的满载的托盘抓取至测试装置；其中所述托盘具有容纳多个芯片元件的容纳部和带有多个孔的盖部；送料装置，其将多个芯片元件传送至所述摇料装置处的托盘上；摇料装置，其摇动所述托盘，使得来自所述送料装置的芯片元件经由所述孔装载至所述容纳部中；测试装置，其对由所述抓取装置转送的托盘中的芯片元件进行测试，并将所装载的芯片元件清空后输出空载的托盘。通过本申请实施例，可以将摇动托盘取料以及放置和拿取托盘的过程自动化，从而能够节省人力并提高测试效率。