基于三维点云模型的电子设备屏幕开孔位置检测方法

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基于三维点云模型的电子设备屏幕开孔位置检测方法
申请号:CN202510021935
申请日期:2025-01-07
公开号:CN119963631A
公开日期:2025-05-09
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于三维点云模型的电子设备屏幕开孔位置检测方法,包括:使用三维激光扫描设备对电子设备屏幕进行扫描以获取电子设备屏幕表面的三维点云数据;对采集到的原始三维点云数据进行去噪处理和点云精简;对预处理后的点云数据进行电子设备屏幕平面拟合;基于拟合得到的电子设备屏幕平面,将点云数据沿垂直于该平面的方向进行分层处理,并在每层点云中提取开孔候选区域;计算每个开孔候选区域的几何中心位置,并将其从三维点云坐标系转换到电子设备屏幕的设计坐标系中;将检测得到的电子设备屏幕开孔位置信息与预先存储的标准开孔位置信息进行对比,输出检测结果并记录到数据库中。本发明可以提高检测的准确性和鲁棒性。
技术关键词
电子设备屏幕 三维点云模型 开孔位置 三维点云数据 三维激光扫描设备 网格 开孔面积 坐标系 区域生长算法 邻域 栅格 滤波算法 索引 分层 鲁棒性 样本 噪声
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