一种光电探测设备校靶方法及系统

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一种光电探测设备校靶方法及系统
申请号:CN202510023544
申请日期:2025-01-07
公开号:CN119642648A
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及航天航空测控技术领域,尤其涉及一种光电探测设备校靶方法及系统。本发明的方法包括:获取测量装置的测量数据;确定测量装置坐标系‑飞机坐标系的位姿关系以及测量装置坐标系‑靶板坐标系的位姿关系;确定目标模拟器的光轴坐标系与飞机坐标系的位姿关系;确定所述目标模拟器发射的光轴在飞机坐标系下与载机机轴的位姿偏差;根据所述位姿偏差调整所述目标模拟器,以使所述目标模拟器发射的光轴与所述载机机轴平行;调整待校靶的光电探测设备,以使所述光电探测设备发射的瞄准线光轴与所述目标模拟器发射的光轴平行或重合。本发明能够在不调整飞机水平位置的情况下完成光电探测设备的校靶,更便于测量,并且精度高。
技术关键词
坐标系 光电探测设备 校靶方法 飞机 模拟器 转换算法 靶板 关系 矩阵 SVD算法 激光跟踪仪 偏差 测控技术 标识 数据 全站仪 方位角 可见光 终端
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