一种提升Mura缺陷分类精度的方法、系统、电子设备及存储介质

本申请公开了一种提升Mura缺陷分类精度的方法、系统、电子设备及存储介质，用于实现对低灰阶图像的Mura缺陷精准分类。本申请的提升Mura缺陷分类精度的方法包括：获取待检测显示屏上的图像；对图像进行纹理滤波处理，获得滤波图像；对滤波图像进行灰度化处理和缺陷分割处理，获得待检测图像；将待检测图像输入Mura分类模型，获得分类结果；其中，Mura分类模型通过如下训练方法得到：获取多个传感器采集的第一数据；对第一数据进行预处理，获得第二数据；提取第二数据中的特征数据；根据正交序列融合算法对特征数据进行融合，获得融合结果；根据融合结果训练获得Mura分类模型。