半导体微结构沟槽中填充中子转化材料的方法和装置

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半导体微结构沟槽中填充中子转化材料的方法和装置
申请号:CN202510031883
申请日期:2025-01-09
公开号:CN119451286B
公开日期:2025-05-27
类型:发明专利
摘要
本发明提供了半导体微结构沟槽中填充中子转化材料的方法和装置,属于半导体技术领域。本发明采用湿法离心的冷态技术路线,在不加热半导体的前提下,利用离心的方式将胶体中的氟化锂微粒填充到微结构中。在离心力的作用下,微结构中的氟化锂填充致密且完全,达到MSND芯片的工艺要求。在本发明中,含有微结构沟槽的半导体(3)通过静电自粘薄膜(2)固定于半导体装载器(1)表面,由于半导体(3)本身密度较低,且体积较小,能避免因溶液流动造成的翻滚或位移;半导体装载器(1)设有限位卡口(12),通过限位卡口(12)与支撑架(4)的立柱(41)配合安装,可实现固定半导体装载器(1),避免半导体装载器(1)发生旋转或翻滚。
技术关键词
半导体微结构 底部托盘 沟槽 中子 离心容器 氟化锂 卡口 磨砂材质 静电 限位卡扣 薄膜 立柱 纳米 离心力 粉末 聚乙烯 微粒 芯片
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