摘要
本发明涉及半导体封装技术领域,特别是一种半导体封装方法通过优化封装流程和采用精密定位、微细加工等技术,显著提高了封装效率,缩短了封装周期,通过选择高性能封装材料和优化封装结构设计,有效降低了封装过程中的热应力和机械应力,提高了封装可靠性,通过采用新型封装材料和工艺,减少了封装过程中的材料浪费和人工成本,降低了封装成本。
技术关键词
半导体封装方法
封装外壳
半导体芯片
封装结构
测试设备
高功率半导体器件
高性能封装材料
封装工艺
引线框架
结构仿真
新型封装材料
设计散热结构
计算机仿真技术
精密定位技术
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