一种半导体封装方法

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一种半导体封装方法
申请号:CN202510047140
申请日期:2025-01-13
公开号:CN120033087A
公开日期:2025-05-23
类型:发明专利
摘要
本发明涉及半导体封装技术领域,特别是一种半导体封装方法通过优化封装流程和采用精密定位、微细加工等技术,显著提高了封装效率,缩短了封装周期,通过选择高性能封装材料和优化封装结构设计,有效降低了封装过程中的热应力和机械应力,提高了封装可靠性,通过采用新型封装材料和工艺,减少了封装过程中的材料浪费和人工成本,降低了封装成本。
技术关键词
半导体封装方法 封装外壳 半导体芯片 封装结构 测试设备 高功率半导体器件 高性能封装材料 封装工艺 引线框架 结构仿真 新型封装材料 设计散热结构 计算机仿真技术 精密定位技术 免受外界环境 塑料外壳 半导体封装技术
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