摘要
本发明公开了基于生成对抗网络改进的晶圆图识别方法及系统,涉及半导体技术领域,该晶圆图识别方法包括以下步骤:利用预先配置的堆叠卷积层,增加轻量化分类模型的卷积层深度,并结合全局平均池化层优化轻量化分类模型;基于优化后的轻量化分类模型,构建卷积神经网络模型,将晶圆图图像作为输入,并训练卷积神经网络模型;基于训练后的卷积神经网络模型,对预先配置的生成对抗网络模型进行改进,构建深度卷积生成对抗网络模型,并通过深度卷积生成对抗网络模型对晶圆图图像进行识别。本发明通过优化轻量化分类模型、构建深度卷积生成对抗网络,可以解决数据不平衡问题,还可以防止过拟合。
技术关键词
卷积神经网络模型
识别方法
生成对抗网络模型
构建卷积神经网络
分类模型优化
图像
Sigmoid函数
识别系统
模块
表达式
参数
样本
数据
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