一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法

本发明涉及二极管芯片测试技术领域，具体为一种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法，包括检测座，所述检测座的内部开设有芯片槽，且芯片槽的内侧壁上设置有若干个与芯片引脚相配合的连接脚，若干个所述连接脚等分为四组。该种二极管芯片光电性能测试装置及使用方法，通过导向坡牵引插针滑向定位槽，此时插针即可沿连接脚进行居中连接，相较于现有将插针插入接触片间隙，上述相邻凸边组成的导向坡可对芯片的插针进行牵引，使插针主动进入定位槽，以此保证芯片安装后，其插针始终能够与连接脚进行居中连接，一方面无需使用者控制插针与测试部件进行精准对位，操作便利性好，另一方面可使连接脚与插针的接触更加稳定。