用于测试的自校准半球谐振子系统

AITNT
正文
推荐专利
用于测试的自校准半球谐振子系统
申请号:CN202510096262
申请日期:2025-01-22
公开号:CN119533430B
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明涉及材料性能测试技术领域,尤其涉及用于测试的自校准半球谐振子系统,它包括待测谐振子主体和用于固定待测谐振子主体的调控腔体,所述调控腔体的内腔环绕设置有多组与多个电极引脚分别对应的检测导体,所述检测导体的上端设置有供电极引脚插入的连接槽,所述检测导体包括上段的调谐环和下段的导电部,所述导电部的底部通过导线连接有信号处理单元,所述检测导体的底部设置有控制检测导体升降的驱动机构,所述驱动机构与信号处理单元连接。本发明通过驱动机构自动调节调谐环位置,确保谐振频率和应力分布的精准控制,不需要人工操作校准,显著降低了操作复杂性,简化了校准过程,从而提高了系统的可靠性和经济性。
技术关键词
半球谐振子 逻辑处理单元 信号处理单元 导体 材料性能测试技术 腔体 电极 控制驱动机构 螺纹环 校准算法 导电 锁止机构 筒状结构 导线 导向环 复合材料 内腔
系统为您推荐了相关专利信息
1
用于光模块多径干扰测试的一体化测试系统及测试方法
一体化测试系统 光模块 多径 光信号 半导体制冷器
2
一种双芯体封装温压一体传感器模块化混合封装结构
温压一体传感器 混合封装结构 信号处理单元 EMC模块 厚膜电阻网络
3
一种多点接地在线监测装置及故障监测方法
多点接地故障 故障监测方法 在线监测装置 电流检测单元 信号处理单元
4
基板结构
导电迹线 基板结构 线路结构 芯片 半导体元件
5
一种芯片测试方法及测试系统
芯片测试方法 芯片测试系统 主成分分析算法 柔性探针 深度优先搜索算法
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号