摘要
本发明公开了一种芯片安全机制测评方法和计算机设备,所述方法包括:获取同系列历史型号芯片的测试数据;提取历史型号芯片的测试数据的特征变量,建立基于机器学习的预测模型,用于评估芯片安全机制有效性;获取与样本数据同样数据结构的新型号芯片的测试数据;将新型号芯片的测试数据输入所建立的预测模型进行预测,输出预测结果作为芯片安全机制有效性的指标。本发明能够针对同系列新型号芯片实现快速功能安全检测评估,显著提升新型号芯片在小样本场景下的功能安全检测效率与稳定性。
技术关键词
统计特征
测评方法
评估芯片
计算机设备
有效性
机制
随机森林模型
变量
特征提取器
指标
基础
回归算法
计算机程序产品
处理器
样本
系列
特征选择
数据格式
标识
系统为您推荐了相关专利信息
误差模型
误差状态
协方差矩阵
姿态误差
变分贝叶斯
训练样本集
预测装置
深度神经网络训练
参数
刻蚀图形
评估模型构建方法
三轴加速度
统计特征
机器学习模型
儿童
电力故障诊断方法
大语言模型
排序模型
生成电力
文本规范化
数据清洗方法
噪声抑制
离线
循环神经网络模型
卡尔曼滤波模型