一种基于相空间递归特征的晶粒尺寸超声评价方法

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正文
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一种基于相空间递归特征的晶粒尺寸超声评价方法
申请号:CN202510160429
申请日期:2025-02-13
公开号:CN120161119A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于相空间递归特征的晶粒尺寸超声评价方法,一种基于相空间递归特征的晶粒尺寸超声评价方法,涉及金属材料微观组织无损表征领域。该方法包括提取待测金属样品超声A扫信号,通过对A扫信号的界面波与底波之间的信号进行矩形窗加权,提取背散射信号,利用互信息法与虚假临近点法(False Nearest Neighbors,FNN)对背散射信号进行寻优计算,得出最佳嵌入维数与最佳延迟时间。将最佳嵌入维度、最佳延迟时间与背散射信号进行相空间重构,通过相空间与阈值计算绘制递归图,根据递归图进行统计分析,得到递归率、捕获时间等相空间特征值,最后利用基于粒子群优化的极限梯度提升机(Particle Swarm Optimization‑Extreme Gradient Boosting,PSO‑XGBoost)算法以相空间特征为输入、晶粒尺寸为输出构建评价模型。
技术关键词
背散射 信号 重构 梯度提升机 特征值 矩形 界面 尺寸 金属材料 粗糙度 表达式 参数 粒子 算法 组织 定义
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