摘要
本发明公开了一种用于封装基板检测的自动化系统,涉及数据加密技术领域,包括,数据采集模块,用于采集多视角图像数据,对多视角图像数据进行预处理;特征提取模块,用于对预处理后的多视角图像数据进行特征提取;特征图融合模块,用于基于提取的特征图,通过图像配准算法将特征图进行配准融合,构成基板的三维特征图;缺陷概率预测模块,用于构建缺陷识别模型,基于基板的三维特征图预测基板缺陷概率;缺陷等级评估模块,用于根据基板缺陷概率,预测基板缺陷程度评分,根据基板缺陷程度评分评估基板缺陷等级,并生成基板检测报告。本发明实现了多种缺陷类型的智能化识别与评估,显著提升了检测的精度和自动化水平。
技术关键词
自动化系统
封装基板
图像配准算法
纹理特征
缺陷类别
边缘检测算法
三维卷积神经网络
特征提取模块
Softmax函数
多视角
曲面重建算法
数据采集模块
轮廓特征
霍夫变换算法
生成三维点云
表达式
系统为您推荐了相关专利信息
轻量化神经网络
非线性特征
攻击检测方法
攻击检测系统
星形网络
主动脉瓣钙化
程度评估方法
医学影像数据
特征提取算法
灰度共生矩阵
图像
节点特征
路径规划算法
电路板检测方法
相机镜头