针痕过滤检测方法、电子设备及存储介质

本申请公开了一种针痕过滤检测方法、电子设备及存储介质。该针痕过滤检测方法包括：获取待检测芯片的焊盘区域图像；基于焊盘区域图像确定初始二值图像；基于初始二值图像和噪声轮廓阈值确定目标二值图像；基于目标二值图像确定针痕分布图像集合；基于针痕分布图像集合确定每一待检针痕对应的单元格位置；基于针痕模板图像和每一待检针痕对应的单元格位置确定每一待检针痕对应的单元格位置中是否存在需过滤针痕。利用本申请的技术方案，能够高效准确地定位针痕位置，降低针痕误判率，减少过检情况的发生，提升芯片检测的精确性和鲁棒性。