一种基于SD-OCT对PCB板三防漆的非破坏性检测方法

一种基于SD‑OCT对PCB板三防漆的非破坏性检测方法，对频域光学相干断层成像采集的PCB板三防漆图像进行分析，实现三防漆厚度的精确测量；包括步骤：首先，利用SD‑OCT设备对涂有三防漆薄层的PCB板进行扫描和图像采集。其次，根据采集到的图像进行高斯模糊的预处理操作。然后利用边缘检测算法对三防漆涂层的上下边界进行提取以输出边界坐标。最后，根据输出的CSV文件内的坐标算出对应高度以求平均。本发明公开的方法能够在不破坏样品的条件下精准测量PCB板上三防漆的厚度。