镜头模组和测试探针卡

本发明涉及CIS芯片测试技术领域，具体涉及镜头模组和测试探针卡。该镜头模组包括：基板，基板设有多个间隔分布并且贯穿延伸的开口；以及多个物镜，多个物镜分别通过位置调整机构一一对应地安装于多个开口中；位置调整机构包括多个竖向调整机构和多个水平调整机构，每个所述物镜能够通过所述位置调整机构的竖向调整机构调整其与对应待测物的竖向距离或者夹角以及能够通过所述位置调整机构的水平调整机构调整其水平位置；其中，每个物镜通过位置调整机构的竖向调整机构及位置调整机构的水平调整机构调整其焦距。本发明的镜头模组能够单独实现调整焦距，使物镜对焦准确，从而使光信号能够对准CIS芯片的待测部位。