芯片测试分选系统的异常预警方法及介质

本发明公开了芯片测试分选系统的异常预警方法及介质，涉及芯片测试分选技术领域，包括：采集需求信息；基于需求信息进行装载参数和测试参数配置寻优，获得装载参数集合和测试标准值集合；根据这些集合对装载模块和测试模块进行调试，进行芯片定位检测，获得第一异常信息；对芯片进行检测，调用传感器阵列持续监测测试参数，获得监测值集合；基于测试标准值集合识别异常，生成第二异常信息；将两类异常信息发送至工作人员。本发明解决由于芯片放置位置不准确，导致芯片测试效率低、可靠性差的技术问题，达到通过调用测试传感器阵列在预设监测窗口内对关键测试参数进行持续监测，提高芯片放置的准确度，以及芯片测试的效率和可靠性的技术效果。