一种测量集成电路OS及功能的测试电路及测试方法

本发明公开一种测量集成电路OS及功能的测试电路及测试方法，包括：MCU控制模块，用于执行测试程序及数据通信；功能测试模块，包括Loadboard模块及外围电路切换单元，所述Loadboard模块用于承载被测IC并提供功能测试接口，所述外围电路切换单元通过继电器群切换被测IC引脚与外围电路或悬空状态的连接；OS测试模块，与所述功能测试模块连接，用于执行OS测试。