一种基于四台sCMOS相机的多光谱辐射测温方法

本发明涉及光学元件、系统或仪器的技术领域，具体为一种基于四台sCMOS相机的多光谱辐射测温方法，解决了现有温度测量方法或响应时间短、或测量精度低的技术问题，本发明所述方法构建了一种多光谱辐射测温系统，该系统包括温度场、四组滤光片、四台背照式sCMOS相机、黑体炉和上位机，通过黑体炉对相机进行标定实验，四台相机采集温度场的二维光谱图像，上位机对采集到二维光谱图像进行处理；利用Powell约束优化算法反演得到温度场。本发明所述方法最终利用Powell优化算法将温度求解问题转化为最小值求解问题，可以消除发射率的影响，结合了多光谱点测温与面阵测温的优点，可以实现二维温度场的高精度求解。