一种芯片测试设备

本发明公开了一种芯片测试设备，涉及芯片测试技术领域，包括机架、上料机械手、下料机械手和多个测试装置。锁紧机构包括基座、第一弹性件、限位组件和两个压紧臂，上料机械手的输出端能够驱使测试座下降并将芯片搬运至测试座上，以使两个压紧臂的压紧端同时下摆并将芯片压紧在测试座上，并使限位组件的限位端能够与测试座相抵，以限制测试座上升，下料机械手的输出端能够驱使限位组件的限位端脱离与测试座的抵接，以使测试座上升且两个压紧臂的压紧端同时上摆，下料机械手能够将测试座上的芯片搬运至第一收集装置或第二收集装置。锁紧机构能够将芯片压紧在测试座上，无需下料机械手再额外执行芯片压紧步骤，提高了芯片测试设备的芯片测试效率。