一种基于机器视觉的电子信息工程芯片检测设备

本发明公开了一种基于机器视觉的电子信息工程芯片检测设备，包括底板，所述底板的顶部固定安装有四个滑杆，四个所述滑杆的顶部固定安装有同一个顶板，四个所述滑杆上滑动套装有同一个升降板，所述顶板的底部固定安装有液压缸，所述液压缸的伸缩端上固定连接在升降板的顶部上，所述升降板的底部设置有摄像机，所述升降板的底部设置有位于摄像机两侧的照明灯，所述底板的顶部上固定安装有位于升降板正下方的收集箱。本发明可自动抵紧限位芯片，确保检测稳定性，提升检测精度，检测后自动解除限位，便于芯片收集，优化检测流程，显著提高工作效率，并通过旋转板开合实现芯片自动掉落收集，并为下一芯片放置提供便利，进一步促进了工作效率的提升。