一种消除准粒子影响的量子芯片封装方法

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一种消除准粒子影响的量子芯片封装方法
申请号:CN202510324804
申请日期:2025-03-19
公开号:CN119855481B
公开日期:2025-07-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种消除准粒子影响的量子芯片封装装置,包括屏蔽桶底板、基板、封装上板、PCB板、连接板部件、盖板部件以及屏蔽桶桶身,屏蔽桶底板位于屏蔽桶桶身底端,基板上设有第一方孔、第二方孔、第三方孔以及第四方孔和芯片方孔,封装上板内部设有第五方孔、第六方孔、第七方孔、第八方孔和中心方孔,连接板部件包括第一连接板和第二连接板,第一连接板置于PCB板上;第二连接板置于第五方孔、第六方孔、第七方孔以及第八方孔内,盖板部件包括第一盖板、第二盖板、第三盖板和中心盖板,屏蔽桶桶身与屏蔽桶底板和封装上板装配。本发明实现了高集成、磁屏蔽及极低温环境下的稳定性能,能够有效减少准粒子干扰,确保量子计算的高稳定性。
技术关键词
粒子 封装结构 封装方法 盖板部件 量子芯片封装装置 微结构 透过率 上板 时间测量方法 动能 量子点 超导材料层 封装材料 实时监测系统 因子 密度 PCB板 纳米级
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