一种可实现多角度调节的芯片测试用手动机械臂

本发明公开了一种可实现多角度调节的芯片测试用手动机械臂，包括底板、立柱和升降板，升降板上转动连接有第一段臂，第一段臂转动连接有第二段臂，第二段臂转动连接有第三段臂，第三段臂连接有转轴分度盘，升降板与第一段臂、第一段臂与第二段臂、第二段臂和第三段臂之间均连接有连接轴和锁紧件，第三段臂内穿设有转轴，第三段臂上设有第一定位组件和第二定位组件，第二定位组件包含固定板，固定板的侧面连接有压板，固定板上设有转动设置的第二锁紧把手，第二锁紧把手的锁紧端与压板螺接。本发明的有益效果是：能够满足不同测试角度的芯片测试，且结构简单，易于加工、组装，生产成本低，能够适应少量芯片的检测，检测成本低。