一种射频滤波芯片测试实验装置及其使用方法

本发明公开了一种射频滤波芯片测试实验装置及其使用方法，包括天线组件与测试设备，所述天线组件连接有第一C频段接收信号线、第二C频段接收信号线、第一C频段发射信号线、第二C频段发射信号线、X频段接收信号线、X频段发射信号线、Ku频段接收信号线与Ku频段发射信号线。本发明所述的一种射频滤波芯片测试实验装置及其使用方法，采用单刀八掷机械式同轴开关，通过控制电路板对机械式同轴开关进行控制，实现测试通道的快速切换，单刀八掷机械式同轴开关采用高精度陶瓷接触结构，具有低插入损耗和高隔离度的特点，控制电路板集成有微控制器和驱动电路模块，能够实现对所述单刀八掷机械式同轴开关的精确控制。