一种基于多层次匹配与特征优化的X角点检测方法

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一种基于多层次匹配与特征优化的X角点检测方法
申请号:CN202510357693
申请日期:2025-03-25
公开号:CN120259251A
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于多层次匹配与特征优化的X角点检测方法,属于计算机视觉和图像处理技术领域。所述方法,包括:对预定的X角点标记制作其对应的高精度模板,使其能够精准聚焦于角点区域;在识别标记前对图像进行包括降噪、滤波的操作,以去除噪声干扰;在预处理后的图像上采用自适应阈值和多尺度搜索策略进行模板匹配;在模板匹配的基础上进行多层次检测,包括ORB特征提取、Harris角点优化和亚像素级定位,输出角点的精确位置和特征描述子。本发明方法在复杂场景下仍能保持高精度与稳定性,适用于视觉定位、三维重建等领域,具有检测效率高、抗干扰能力强及适用性广等优势。
技术关键词
多层次 高精度模板 ORB特征提取 NCC算法 Harris角点检测算法 识别标记 特征点 图像梯度信息 像素 高斯滤波方法 策略 最小化误差 滑动模板 图像处理技术 噪声 计算机视觉
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