基于垂直互联与梯度热匹配的GaN芯片封装结构及方法

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正文
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基于垂直互联与梯度热匹配的GaN芯片封装结构及方法
申请号:CN202510369354
申请日期:2025-03-27
公开号:CN120221521B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于垂直互联与梯度热匹配的GaN芯片封装结构及方法,包括基板,所述基板的内部嵌入式安装有吸波层,所述基板上安装有铜线层,所述铜线层上喷涂有热过度层;所述热过渡层上安装有GaN芯片,所述GaN芯片的栅极区上垂直阵列有碳纳米管,所述碳纳米管上连接有驱动芯片的输出端。高频性能突破:寄生电感降低95%以上,热可靠性提升:CTE失配问题彻底解决,高频噪声抑制:宽频段屏蔽效能提升10倍。
技术关键词
封装方法 双组分加成型液体硅橡胶 步进式光刻机 生长碳纳米管 硅橡胶基体 驱动芯片 芯片封装结构 Fe3O4纳米颗粒 纳米银颗粒 等离子体对基板 聚酰亚胺前驱体 高频噪声抑制 行星式搅拌机 金属化 硅烷偶联剂 表面氧化 残留光刻胶
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