功率半导体封装结构及具有其的功率半导体器件

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功率半导体封装结构及具有其的功率半导体器件
申请号:CN202510374475
申请日期:2025-03-27
公开号:CN119920772B
公开日期:2025-06-03
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种功率半导体封装结构及具有其的功率半导体器件,其中,功率半导体封装结构包括:半导体芯片;第一极电连接结构,设置在半导体芯片的第一侧;第二极电连接结构,设置在半导体芯片的第二侧,第二极电连接结构包括缓冲结构、极座以及液态金属介质,缓冲结构设置在半导体芯片与极座之间,缓冲结构与极座之间形成容纳空间,液态金属介质设置在容纳空间内,缓冲结构与极座之间密封连接以防止液态金属介质脱离容纳空间。本申请的技术方案能够有效地解决相关技术中的功率半导体器件的压接封装难度大、成本高的问题。
技术关键词
功率半导体封装结构 液态金属介质 功率半导体器件 凸块结构 半导体芯片 凹槽结构 缓冲结构 极靴 磁流体 基体 磁体 中心线 作用力 通道 合金
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