半导体封装结构及其制造方法

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半导体封装结构及其制造方法
申请号:CN202510407311
申请日期:2025-04-01
公开号:CN120265106A
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明揭示了一种半导体封装结构及其制造方法;半导体封装结构包括引线框架以及设置于引线框架的芯片结构,引线框架包括引脚、基岛和金属线,半导体封装结构包括至少设于基岛和芯片结构之间的隔离耐压层,所述隔离耐压层连接所述芯片结构以及所述基岛;引脚包括相对的第一面和第二面,基岛包括相对的第三面和第四面,第一面及第三面为引线框架的正面,第二面及第四面为引线框架的背面;芯片结构的功能面面对所述基岛的第三面,功能面包括焊垫区,金属线连接焊垫区及引脚的第二面;芯片结构的功能面更加贴近基岛,提高半导体封装结构的耦合系数。
技术关键词
半导体封装结构 芯片结构 引线框架 焊垫区 功能面 金属线 耐压 脚部 镀层 正面 薄膜 电镀
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