一种工业元件缺陷检测方法及系统

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一种工业元件缺陷检测方法及系统
申请号:CN202510415583
申请日期:2025-04-03
公开号:CN120339697A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种工业元件缺陷检测方法及系统,该方法包括:实时采集原始工业元件图像,并对原始工业元件图像进行预处理,以实时生成对应的目标工业元件图像;基于预设规则对目标工业元件图像进行特征提取处理,以实时生成对应的初始特征图,并对初始特征图进行最大池化处理,以实时生成对应的目标特征图;对目标特征图进行全局平均池化处理,以实时输出对应的目标特征向量,并对目标特征向量进行线性变换处理,以实时生成对应的全局特征向量;在全局特征向量中实时提取出与原始工业元件图像对应的全局结构信息,并实时根据全局结构信息判断原始工业元件图像中是否存在缺陷。本发明能够避免复杂的数据以及复杂的计算,对应提升了工作效率。
技术关键词
元件缺陷检测方法 全局结构信息 工业 全局平均池化 图像 元件缺陷检测系统 表达式 尺寸 通道 处理器 算法 唯一性 可读存储介质 模块 存储器 特征值 程序 计算机 数值
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