一种半导体测试分选设备

本发明涉及自动化设备技术领域，公开了一种半导体测试分选设备，通过巧妙地设计压头机构能够在测试时与测试机构紧密抵接的压合，确保芯片牢固固定，避免因芯片松动导致的测试误差；而在非测试状态下，压头机构又能与测试机构快速分离，保证芯片的顺畅转移与输送。这种精准的配合机制不仅显著提升了芯片测试的效率与准确性，还有效降低了因夹持不稳定导致的芯片损坏风险，为半导体产业的高效、稳定发展提供了有力的技术支持。