一种LED灯珠缺陷检测方法及系统

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一种LED灯珠缺陷检测方法及系统
申请号:CN202510435526
申请日期:2025-04-09
公开号:CN119963547B
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及灯珠图像处理技术领域,具体为一种LED灯珠缺陷检测方法及系统,本发明中,通过对LED灯珠表面图像的预处理,利用高斯滤波消除随机噪声和直方图均衡化增强图像整体灰度分布,显著提升图像质量,为后续特征提取奠定了基础。在裂纹检测中,通过像素梯度方向的连续性分析构建裂纹分布特征,并结合区域生长算法动态扩展梯度方向连续区域,同时剔除噪声干扰,有效捕捉裂纹路径中的复杂形态,包括裂纹的延伸、交叉和弯曲等特征。针对复杂裂纹形态的精准识别,避免了裂纹路径识别不完整的现象,使裂纹检测结果更全面。在暗斑检测中,通过图像局部分块后计算灰度熵值并逐一比对,结合邻域检查剔除孤立点,显著减少了误判和漏检现象。
技术关键词
LED灯珠 缺陷检测方法 凹陷特征 分布特征 像素点 裂纹 分块图像数据 区域生长算法 直方图均衡化 连续性 剔除噪声 标记 光栅条纹图像 随机噪声 动态 缺陷检测系统
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