基于半监督学习的子空间阵列测向方法

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基于半监督学习的子空间阵列测向方法
申请号:CN202510477586
申请日期:2025-04-16
公开号:CN120334843A
公开日期:2025-07-18
类型:发明专利
摘要
本发明提出了一种基于半监督学习的子空间阵列测向方法。该方法将信号子空间作为网络输入,显著降低了数据集规模和处理器的内存需求,使超大规模天线阵列场景应用深度学习方法成为可能。针对实际场景中标签数据难以获取的问题,本发明引入半监督学习策略,通过少量标签数据结合卷积层的复值操作实现了高精度模型训练。仿真结果表明,该方法在内存资源有限但允许较高时间复杂度的场景中表现优异,为实际应用提供了有效的解决方案。
技术关键词
半监督学习 测向方法 协方差矩阵 后处理模块 阵列 特征提取模块 标签 嵌入位置编码 监督学习策略 训练集 图像块 数据 信号 线性 噪声子空间 深度学习方法 经典算法 超大规模 特征值
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