半导体芯片老化检测设备及检测方法

本发明涉及半导体测试技术领域，具体公开了半导体芯片老化检测设备及检测方法，用以解决现有技术中无法实时获取半导体性能的问题；包括测试箱，所述测试箱底部设有多个支腿，所述测试箱上设有用于为其提供热气的热风部件，所述测试箱外侧设有控制面板，所述控制面板上设有触摸显示屏，所述测试箱端部开设有多个水平穿孔，每个水平穿孔位置滑动设有一个测试滑座。本发明针对现有需要进行设计，可以获取半导体芯片在极限环境下的工况，从而更好的完成对半导体芯片的动态测试，同时这里构建多组测试模块，保证了测试的可靠性，另外构建与测试模块相对应的气流层，避免测试环境不均匀的问题。