调制度修正方法、装置、设备、介质及照明测量系统

本发明公开了调制度修正方法、装置、设备、介质及照明测量系统，其方法包括：获取通过彩色成像装置采集的相移条纹图像，其中，所述相移条纹图像为通过投影装置对被测物体进行投影得到；对所述相移条纹图像进行求解得到未修正的调制度图像；根据彩色成像装置的颜色滤波窗口分布，筛选出所述相移条纹图像被插值的像素点作为插值像素点，其中，所述插值像素点无法通过颜色滤波窗口；利用调制度修正算法计算所述插值像素点的调制度，根据所述插值像素点的调制度对未修正的调制度图像进行修正，得到修正后的调制度图像。本发明通过修正调制度，有效减少由于插值导致的误差，实现精确的调制度计算，进一步提高了照明测量系统的精度。