一种新型集成电路解键合工艺

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一种新型集成电路解键合工艺
申请号:CN202510646199
申请日期:2025-05-20
公开号:CN120511195A
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种新型集成电路解键合工艺,属于集成电路技术领域。包括:准备玻璃基板;于所述玻璃基板上设置LAL层;于所述LAL层上涂布介质形成介质层;于所述介质层上构建RDL层;于所述RDL层上倒装焊接芯片;于所述芯片外部使用塑封材料进行塑封,形成塑封层;将所述RDL层和塑封层从介质层上剥离;于所述RDL层底部焊接锡球,得到封装产品。本发明在玻璃基板上采用溅镀TiW的方式制作LAL层,剥离过程中LAL层能够吸收激光能量成为局部热源,可以省略原有制程中剥离后去除RL残胶及金属层的步骤,缩短了制程流程,介质层起到防止两者接合的作用,其膜厚小于0.3um,在剥离时介质层能够完全碳化,不会对后续工艺产生影响,LAL层可重复利用至少15次,降低了成本。
技术关键词
新型集成电路 玻璃基板 倒装焊接芯片 重布线 焊接锡球 介质 集成电路技术 后续工艺 制程 涂布 激光 热源
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