一种芯片的双面检测装置

本发明公开了一种芯片的双面检测装置，所述装置支座上端活动设置有Y轴滑台，所述Y轴滑台上端活动设置有X轴滑台，所述X轴滑台的尾部一体成型有定位支座，所述X轴滑台的前端安装有镜室，所述定位支座上端定位有相机检测组件，所述镜室上端安装有检测棱镜座，所述检测棱镜座内侧安装有光源支架，所述光源支架上安装有第一光源与第二光源。本发明所述的一种芯片的双面检测装置，相机的光路经过变焦后到达棱镜的位置折射到芯片上，并通过两组反射棱镜将芯片两面光路再次折射到下端棱镜的位置并返回相机，且设置X轴与Y轴微调结构，可以调整检测位置，适应更多型号尺寸的芯片，且检测精度更高。