一种基于深度学习的西瓜果实轮廓横截面参数测定方法

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一种基于深度学习的西瓜果实轮廓横截面参数测定方法
申请号:CN202510707807
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120580281A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本发明属于果实参数测量技术领域,提供了一种基于深度学习的西瓜果实轮廓横截面参数测定方法,包括:西瓜横截面图像采集、三维点云映射、光照校正与光照补偿、西瓜横截面分割、下采样操作、离群点剔除、平滑处理、Delaunay三角化以及面积计算和累加。本发明通过U‑Net改进模型进行自动分割替代传统人工标注或依赖简单阈值筛选的方法,实现了自动化测量,缩短了果实参数的获取时间;通过将西瓜横截面图像转变为三维点云图像,避免了因视角误差导致测量的不准确。
技术关键词
参数测定方法 西瓜果实 点云模型 点云图像 离群点 轮廓 移动最小二乘法 深度相机 光照 成像仪 检测西瓜 视角误差 校正 横截面面积 面片 三角形 栅格
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