一种半导体芯片终端测试系统

本发明公开了一种半导体芯片终端测试系统，包括底板与板式传送带，所述板式传送带安装至底板上，所述板式传送带的内部开设有一组用于放置芯片的检测槽，所述底板的顶部安装有顶板，所述顶板上安装有电动推杆，所述电动推杆的底端固定连接有检测板，所述检测板上安装有一组探针。该发明，采用板式传送带搭配检测槽对芯片进行输送，更加适用于芯片的大批量测试，且在测试过程中，可同步完成对该批次芯片的除尘与下料处理，同时还可对探针进行实时散热处理，保证其测试效果，使多个工序简洁化，具备高集成度，降低测试成本的同时提升测试效率。