一种单相双柱并联电抗器故障模拟装置及方法

本发明涉及电抗器故障模拟领域，尤其是一种单相双柱并联电抗器故障模拟装置及方法，装置主体为双硅钢片铁心柱结构，柱上绕制绕组，四周设铁轭。器身顶部用压紧螺栓压紧铁心柱；上、下铁轭及旁铁柱通过U型钢夹和夹紧螺栓紧固，各铁轭间由夹件上4根螺杆连接；绕组上下端用绝缘板及固定螺栓压紧。该装置可精准模拟不同位置与严重程度的铁心柱松动、铁轭叠层松动、铁轭间松动及绕组松动等多类机械故障，实现不同负载下故障演变动态观测与信号特征分析，为后续构建故障诊断模型及主动防御策略提供系统化试验基础。