基于点云处理的硬件尺寸误差检测方法及系统

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基于点云处理的硬件尺寸误差检测方法及系统
申请号:CN202510827634
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120339369B
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本发明涉及硬件尺寸计量检测技术领域,具体涉及基于点云处理的硬件尺寸误差检测方法及系统。本发明首先获取硬件的点云数据并对点云数据进行初步密度聚类;进一步从目标数据点与所属初步密度聚类簇内其他数据点的分布相似特征、曲率的重复特征,以及目标数据点的数据密度的相似特征多个角度进行分析,获取目标数据点的硬件隶属度;进一步根据硬件隶属度调整目标数据点与所属初步密度聚类簇内中心点的距离,进行二次密度聚类并获得去噪点云数据;最后根据去噪点云数据对硬件进行尺寸误差检测。本发明从多个角度分析数据点属于硬件区域的可能性,优化密度聚类过程,准确去除点云数据中的噪声干扰,获得可靠的硬件加工产品尺寸误差检测结果。
技术关键词
尺寸误差检测 数据 密度 均匀分布特征 点云 参数 聚类 曲面 计量检测技术 邻域 网格化方法 网格模型 处理器 存储器 齿轮 噪声 线性
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