一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质

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一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质
申请号:CN202510828858
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120339289B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本申请实施例公开了一种图像的缺陷检测方法、装置及存储介质,用于检测屏幕缺陷,提高缺陷检出率。本申请方法包括:根据相机不同的光源和光源位置,获取第一图像和第二图像并计算第一图像均值;根据第一图像、第二图像以及第一图像均值,计算得到矫正系数矩阵;确定第一图像中灰尘的坐标位置和噪点的坐标位置;根据灰尘的坐标位置和噪点的坐标位置调整矫正系数矩阵,并通过调整后的矫正系数矩阵对第一图像进行矫正;获取第一图像中显示屏的拟合边缘,并通过单应性矩阵计算得到第三图像;根据自适应空间滤波核矩阵与第三图像进行卷积运算;对完成卷积运算后的第三图像进行阈值卡控,筛选出第四图像;对第四图像进行特征值分析,得到缺陷特征。
技术关键词
图像 缺陷检测方法 坐标 像素点 矫正 显示屏 矩阵 缺陷检测装置 输入输出单元 检测屏幕缺陷 灰尘 光源 缺陷检出率 矢量图 特征值 相机 照片 滤波 差值算法 可读存储介质
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