光谱超分辨模型训练方法、光谱超分辨测量方法和装置

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光谱超分辨模型训练方法、光谱超分辨测量方法和装置
申请号:CN202510830119
申请日期:2025-06-19
公开号:CN120687835A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
一种光谱超分辨模型训练方法、光谱超分辨测量方法和装置,该方法包括:采集多组低分辨率光谱数据及其对应的高分辨率光谱数据;构建融合三维卷积层和光谱物理约束项的光谱超分辨模型;依次以每一组低分辨率光谱数据为输入,以该组的高分辨率光谱数据为标签作为训练样本,训练所述光谱超分辨模型,直至所述光谱超分辨模型输出的高分辨率光谱数据与作为标签的高分辨率光谱数据之间的误差满足预设阈值。通过该光谱超分辨模型,可以变相的提高光谱测量的效率,且可以确保参数反演的准确性。
技术关键词
模型训练方法 卷积编码器 数据 测量方法 解码器 注意力 物理 上采样 重建误差 误差信息 标签 参数 连续性 密度 模块 存储器 波长 处理器 电子
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